[1μm焦点]•可直接观察IC盘上的BGA,能够用高放大倍数从所有角度位置观察、解析。•利用最新的NC技术提供旋转倾斜(跟踪)功能/自动定位功能/标记功能(选件)•放大倍率最高可达2700倍,高分辨率透视,能够进行尺寸计测 BGA透视图像 SMX-160GT的倾斜图像不是让样品倾斜,而是驱动影像增强器最大倾斜到60°角进行拍摄,得到具有立体感的透视图像。