[1μm焦點]•可直接觀察IC盤上的BGA，能夠用高放大倍數從所有角度位置觀察、解析。•利用最新的NC技術提供旋轉傾斜（跟踪）功能/自動定位功能/標記功能（選件）•放大倍率最高可達2700倍，高分辨率透視，能夠進行尺寸計測 BGA透視圖像 SMX-160GT的傾斜圖像不是讓樣品傾斜，而是驅動影像增強器最大傾斜到60°角進行拍攝，得到具有立體感的透視圖像。
